兩箱式高低溫氣體沖擊試驗(yàn)箱 模擬的是一種惡劣的溫度環(huán)境，來(lái)對(duì)金屬、塑料、橡膠、電子等材料進(jìn)行篩選和考核，可作為產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。試驗(yàn)產(chǎn)品在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 環(huán)境模擬恒溫試驗(yàn)設(shè)備 廣泛適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品零部件在高低溫濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，確定上述產(chǎn)品對(duì)高低溫及濕熱環(huán)境的耐溫適應(yīng)性，特別是產(chǎn)品電氣性能和機(jī)械性能的變化情況 也可用于檢查試樣耐受某些腐蝕的能力。

智能冷熱沖擊試驗(yàn)箱 可測(cè)試金屬 汽車配件 用于電子電器元件、自動(dòng)化部件、通訊元件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理性變化。

TSD系列 兩箱氣體式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害。

兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 可編程 是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。分為兩廂式和三廂式，區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同.

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 觸摸屏 是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。分為兩廂式和三廂式，區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同.

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 性能穩(wěn)定 用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在zui短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 自動(dòng)升降循環(huán)沖擊 適合汽配、通信、電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、科研、航天、學(xué)校、質(zhì)檢所等行業(yè)，測(cè)試各種材料對(duì)高、低溫的反復(fù)沖擊能力。檢測(cè)產(chǎn)品于熱脹冷縮所產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理傷害，確保產(chǎn)品的品質(zhì)。