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技術(shù)文章/ Technical Articles
內(nèi)部電磁干擾:試驗機內(nèi)部存在多種電子元件與電路,如控制電路、傳感器電路等。當這些電路工作時,會產(chǎn)生不同頻率的電磁信號。若電磁兼容性不佳,這些信號可能相互干擾。例如,電源電路產(chǎn)生的高頻噪聲可能耦合到傳感器的信號傳輸線路中,使傳感器輸出的溫度、濕度或折彎角度等信號出現(xiàn)偏差。這將直接導致測試數(shù)據(jù)不準確,無法真實反映 FPC 在高溫高濕環(huán)境下的彎折性能。
外部電磁干擾:測試環(huán)境中往往存在其他電子設(shè)備,如附近的通信設(shè)備、大型電機等,它們會向外輻射電磁能量。若試驗機的電磁兼容性不足,這些外部電磁干擾可能進入試驗機內(nèi)部,干擾測試信號。比如,附近無線通信設(shè)備產(chǎn)生的強電磁輻射可能干擾試驗機的控制信號,使折彎動作出現(xiàn)異常,進而影響 FPC 測試的一致性和可重復性。
誤判 FPC 性能:不準確的測試信號會導致對 FPC 性能的誤判。若電磁干擾使?jié)穸葌鞲衅髯x數(shù)偏高,可能會錯誤地認為 FPC 在更高濕度下仍能保持良好的彎折性能,從而高估其防潮能力。反之,若干擾使溫度傳感器讀數(shù)偏低,可能低估 FPC 在高溫環(huán)境下的彎折可靠性,導致優(yōu)質(zhì)的 FPC 產(chǎn)品被誤判為不合格,給企業(yè)帶來損失。
影響測試結(jié)論的可靠性:電磁兼容性問題還可能使測試結(jié)果波動較大,不具備穩(wěn)定性和可靠性。這使得基于測試數(shù)據(jù)得出的 FPC 性能結(jié)論缺乏說服力,無法為 FPC 的研發(fā)、生產(chǎn)改進提供有效依據(jù)。例如,在評估 FPC 的彎折壽命時,由于電磁干擾導致測試過程中折彎次數(shù)計數(shù)不準確,得出的彎折壽命數(shù)據(jù)就無法真實反映 FPC 的實際性能。
設(shè)備故障頻發(fā):電磁兼容性差會使試驗機內(nèi)部電路受到持續(xù)的電磁干擾沖擊,導致電子元件過早老化或損壞。例如,頻繁的電磁干擾可能使控制芯片出現(xiàn)邏輯錯誤,引發(fā)設(shè)備死機或失控。長期處于這種干擾環(huán)境下,設(shè)備的故障率將大幅增加,影響正常的測試工作。
縮短使用壽命:電磁干擾可能導致設(shè)備內(nèi)部局部過熱,加速電子元件和電路板的老化。例如,電源模塊在受到電磁干擾時,可能出現(xiàn)電流波動,使內(nèi)部元件承受額外的電氣應力,從而縮短其使用壽命。這不僅增加了設(shè)備的維護成本,還可能因設(shè)備故障而延誤 FPC 測試進度。
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